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October 15, 2026

线上报告 | 免费参加:光刻胶中的多尺度问题——从光酸产生到溶解扩散

能垒,灵敏度,扩散,分辨率、LER

光刻胶是集成电路微细图形加工的关键材料,直接决定分辨率、线边缘粗糙度与灵敏度。2025 年全球半导体光刻胶市场,日本占 74.9%、美国占 11.81%,中国仅 3.48%。 “十五五”规划已把工艺与辅助材料突破列入重点任务。波长从 436 nm 推进到 13.5 nm,光子能量由 6.4 eV 跃升至 92 eV,首次高于组分的电子结合能,反应机理随之质变。这些过程发生在电子/原子尺度、跨度从飞秒到秒级,常规实验难以原位观测——计算模拟因此成为研发链条中不可替代的一环。

为此,源资科技推出主题为 "光刻胶中的多尺度问题:从光酸产生到溶解扩散" 的免费线上报告。

报告信息:

报告时间:2026 年 10 月 29 日(周四)14:00–15:00

报告形式:线上直播,免费参加

报告讲师:

汪进凯 博士

源资信息科技(上海)有限公司

高级技术支持工程师

直播亮点:

  • DFT 能垒差合成前预判光刻胶灵敏度

  • 27,000 原子 MD 捕捉光刻胶酸扩散–反应正反馈

  • 粗粒化 MD 揭示光刻胶 LER 主因在光子分布

  • 有限元流场揭示光刻胶显影传质由对流转扩散

报名方式:

  • 关注“源资科技VASP”公众号;

  • 回复关键词“光刻胶”;

  • 点击收到的报名链接,点击“观看直播”填写表单完成报名!

注:报名后可添加工作人员微信,加入交流群。


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